与光同行，探索未来。5月16日，第十九届“中国光谷”国际光电子博览会暨论坛（2023武汉光博会）在中国光谷科技会展中心举办。在精测电子展区，业内首款1毫米口径色彩分析仪、具有完全自主知识产权的光学特征检测仪……一个个弥补国内空白的“拳头产品”吸引了众多参观者的目光。

        武汉光博会是具有规模及影响力的光电子专业展会，覆盖了光通信、F5G全光网络、激光制造、精密光学、芯片、光电传感、新材料等热门话题，是众多光电企业市场拓展、品牌推广、新品展示的极佳平台，是光电行业人士寻找新技术及新产品、了解市场先机、探讨产品技术及学术交流的专业平台。

        本次展会，精测电子以“引领精密检测技术，共创最佳视觉体验”为主题，主要展示集团显示领域检测产品及技术解决方案，包括色彩分析仪、光谱仪、线扫光谱共焦传感器、色彩管理综合测量仪、成像式亮度计、多角度光谱仪和AR/VR检测设备等十个系列，其中多款产品为首次亮相。

       “这款就是获得2021年‘武汉名品’认定的高精度色彩分析仪，不过我们又对它进行了升级创新，新增更多测量口径，产品也更丰富，可以灵活应用于各种不同的使用和测试场景。”精测电子相关负责人介绍，JC-EYE-2色彩分析仪是业内首款1毫米口径色彩分析仪，精度高，速度快，性能优异，可广泛应用于当下流行的全面屏手机屏下摄像头、ARVR显示模组等小尺寸显示发光器件检测。

       线扫光谱共焦传感器，是精测电子经过三年研发、首次拿出参展的新品之一。精测电子相关负责人介绍，该产品重点攻关了光路设计和后期一站式数据处理的创新技术难点，线扫宽度达到8.8mm，满量程下可实现每秒2600线测量速度，Z向分辨率达0.55μm，具有测量精度高、速度快、应用广的特点，具备亚微米级别的精度和分辨率，材质适应性好，可测量各种材质的表面轮廓，尤其对透明/半透明材质的层析、高反射率材质的表面测量效果好，可用于外观轮廓及表面缺陷测量，多层透明材质分析、位置和距离识别等应用，主要用于半导体、显示面板及3C产品等领域，如晶圆芯片、点胶贴合、终端产品表面形貌、缺陷检测等。

       “这款JI-NED成像式检测系统，是我们自主研发的光学特征检测仪器，其测量技术已经达到国际水准。”精测电子相关负责人向记者详细介绍了它的工作原理，通过控制超广角镜头入瞳位置，模拟人眼对近视显示设备的感知，来分析评价产品性能，主要应用于穿戴式显示产品，如AR、VR的光学检测。

       作为武汉本土企业，精测电子深耕半导体、显示、新能源测试领域多年，拥有丰厚的技术积累，未来，精测电子希望联合产业链上下游合作伙伴，共同助力武汉市“光芯屏端网”建设，共同探寻未来新发展。